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HAST高压加速老化箱
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HAST高压加速老化箱

产品规格 : 满足31~248L标准容积选型和非标定制
产品介绍
       HAST高压加速老化箱英文名HAST CHAMBER,用于评估电子元器件、PCB、芯片产品等在高温,高湿,高气压条件下对环境的抵抗能力,通过加速其失效过程,加速因子在几十到几百倍之间,此类极端的加速模拟可靠性测试,便于确定产品或器件的极限工作条件,更容易提前发现产品失效模式,并且缩短产品或系统的寿命试验时间,为量产验证赢得时间。


产品别名:
      超加速寿命试验机,HAST高压加速寿命老化箱,HAST老化箱,不饱和高压加速老化箱,UHAST……
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产品详情

威旭HAST高压加速老化箱又叫高加速寿命老化试验箱,用于IC封装,半导体,微电子芯片,磁性材料及其它电子零件进行高压、高温、不饱和/饱和湿热等加速寿命信赖性试验。

 

► 产品集高温高湿85℃/85%R.H、95℃/95%R.H 、PCT、HAST功能于一体。

► 超长实验运转时间,设备可持续运转400+小时。

► 装有偏压端子(导电螺杆M6:电压0~380V;最大耐压值2000V;电流0~100A)。

► 快速排气模式,试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性。

产品特点

AEC Q101

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分:试验方法Cx:不饱和高压蒸汽的恒定湿热

IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分:试验方法.试验Cx:稳态湿热

JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命

JESD22-A101稳态温度,湿度/偏压,寿命试验(温湿度偏压寿命)

JESD22-A102高压蒸煮试验(加速抗湿性渗透)

JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命

JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验

JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)

技术规格
HAST高压加速老化箱
型号Model WBE-HAST-30 WBE-HAST-40 WBE-HAST-55 WBE-HAST-65
容积(L) 31 L 69 L 154 L 248 L
内箱尺寸
(mm)
直径φ 350 400 550 650
深D 450 550 650 750
外箱尺寸
(mm)
宽W 700 700 850 950
深D 1000 1000 1150 1350
高H 1710 1710 1760 1860
性能指标 温度范围    A: +100~+143℃;
B: +100~+156℃
湿度范围 60%~100%RH
压力范围    A:0.2~3kg/cm² (0.018~0.294Mpa);
B:0.2~4kg/cm² (0.018~0.394Mpa)
温度均匀度 ≤±2℃
温度波动度 ≤±0.5℃
湿度波动度 ≤±2 % R.H
湿度偏差 ≤±3 % R.H
温度偏差 ≤±2℃
压力偏差 ≤±2Kpa
升温时间 常温~+ 143℃ 约45 min ;常温~+ 156℃ 约55 min 
升压时间 常压~+ 3kg/cm²  约35 min,外部气源加压:约5 min
功率 2.8KW 3.2KW 4KW 5KW
箱体材质 内箱 SUS #316不锈钢
外箱 冷轧钢板+双面静电喷塑工艺处理
保温 超细玻璃棉
噪音 ≤60(dB)
控制器 7寸彩色触摸屏控制器(带压力温湿度,带RS-485或RS-232通讯,USB烤数据)
分辨率 温度:0.01℃;湿度:0.1%RH;压力:0.1 kg/cm²;
加压方式 1.锅炉蒸汽加压;2.外部气体加压
BIAS偏压端子

含偏压端子(导电螺杆M6:电压0~380V;最大耐压值2000V;电流0~100A)

(选配订购时需注明)

使用条件 环境温度:+5℃~+35℃;环境湿度:≤85%RH;环境大气压要求:86KPa~106KPa
电源 AC220V 50/60Hz
保护装置 1.超温保护,2.风机超载保护,3.箱门压力保护,4.缺水保护,5.溢水保护,6.加热器空焚保护,
7.加热器超载保护,8.电源缺相保护,9.过电流保护,10.短路漏电等保护
型号说明

HAST型号说明

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